金屬光譜分析儀

簡要描述：金屬光譜分析儀分析儀主要分析各種從鎂礦（Mg）到鈾礦（U）間的80余種自然礦石，具有高效、便攜、準確等特點，不受現(xiàn)場條件的限制，尤其適合野外快速分析，已在國內外地質礦產(chǎn)資源行業(yè)得到廣泛應用。

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詳情介紹

一、金屬光譜分析儀測量范圍：

Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,

Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。

測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦例如：鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等

二、金屬光譜分析儀主要應用

布魯克手持光譜儀主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦；還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿；粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。

三、主要特性：

簡體中文界面

Windows 5.0操作系統(tǒng)

開機后不需校準就可直接測量

采用布魯克技術的XFlash®SDD檢測器

分析元素zui小從Mg開始，達40多種。

分析范圍：ppm級至50%以上（與礦樣種類有關）

實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示

XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣

測量*無損，不受樣品形狀限制

儀器自動校準，自動存儲測量數(shù)據(jù)，無需人工干預

主機一體化設計，高強度密封，防水、防塵，抗沖擊

可選擇一鍵式定時測量

內置Bruker專業(yè)操作軟件，計算和顯示速度快

儀器適應高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環(huán)境

在開機狀態(tài)下長時間不測量時，儀器會自動進入待機狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護儀器

X射線管耐用性強，采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命

選配GPS定位系統(tǒng)，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖

萬能FP模式，適于各種礦石樣品，大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補償元素間干擾。

免費軟件升級。

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